Zaloguj
Eksperci reprezentujący różne gałęzie przemysłu oraz pracownicy akademiccy przedstawią najciekawsze rozwiązania opracowane przy użyciu narzędzi do graficznego projektowania systemów. Inżynierowie z National Instruments zaprezentują najnowsze technologie z dziedziny pomiarów, zautomatyzowanych testów, wbudowanych systemów kontrolno-pomiarowych oraz aplikacji w.cz.
Podczas konferencji można będzie zapoznać się z produktami NI, aplikacjami użytkowników i najnowszymi trendami. Będzie też okazja do poszerzenia posiadanej wiedzy technicznej poprzez bezpośredni kontakt z inżynierami National Instruments, a także do wymiany doświadczeń z innymi użytkownikami produktów NI.
Odbywać się będą również pokazy z udziałem ekspertów z branży oraz spotkania i konsultacje z wystawcami mającymi doświadczenie w dziedzinach, takich jak pomiary, programowanie, budowa maszyn czy systemy wbudowane. Z kolei w trakcie warsztatów, podczas których udostępnione zostaną najnowsze wersje oprogramowania, uczestnicy będą mieli możliwość przetestowania nowych funkcjonalności i poznania nowych produktów.
Pod koniec konferencji organizatorzy umożliwią bezpłatny udział w egzaminie CLAD - Certified LabVIEW Associate Developer, którego pozytywny rezultat jest potwierdzeniem znajomości środowiska LabVIEW, zrozumienia podstaw programowania i dokumentacji kodu oraz poprawnej interpretacji istniejących aplikacji.
Aby wziąć udział w konferencji NIDays 2014 należy dokonać rejestracji za pośrednictwem strony poland.ni.com/nidays/rejestracja.
źródło: National Instruments
