Pomiary charakterystyk częstotliwościowych (7). Komercyjne układy m.cz. – cd.

01 lutego 2026

Kontynuujemy spotkanie z tematyką pomiarów charakterystyk częstotliwościowych fabrycznych urządzeń analogowych małej częstotliwości: wzmacniaczy mocy i korektorów audio. W pierwszej części publikacji o urządzeniach m.cz. skupiono się na zastosowanym, częściowo zautomatyzowanym, autorskim środowisku pomiarowym. Nadszedł czas na opis tego, co konkretnie, jakimi metodami i z jakimi rezultatami zostało pomierzone. Zaprezentowany dalej materiał może okazać się cenną inspiracją dla Czytelników o aspiracjach audiofilskich.

Zastosowane oprogramowanie Sprzętowe środowisko pomiarowe, opisane szczegółowo w pierwszej części publikacji i zastosowane do przeprowadzenia opisanych dalej testów, do cyfrowego przetwarzania sygnałów (DSP) wykorzystywało moduł NUCLEO z mikrokontrolerem STM32L432KC. Z uwagi na główny nurt tej publikacji, skupiony wokół zagadnień czysto analogowych, pominięty zostanie w tym miejscu szczegółowy opis zastosowanych rozwiązań programistycznych. Jakkolwiek dla dobrego zrozumienia zastosowanej metodyki pomiarów, konieczne jest choćby zwięzłe przedstawienie kluczowych założeń oprogramowania zaimplementowanego w MCU. Poniżej przedstawiono zarys algorytmu. Setup oprogramowania sterującego MCU: włączenie niezbędnych modułów (zasobów) programowych, definicje zmiennych i stałych, konfiguracja oraz inicjalizacja kluczowych peryferiów (GPIOs, TIMx, ADCx, DACx, USARTx). Wygenerowanie kalibrującego sygnału sinusoidalnego o częstotliwości Fgen=1 kHz przez okres...

Aby kontynuować czytanie wykup Prenumeratę

Kup teraz

Wersja papierowa Wersja elektroniczna